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URIhttp://ypir.lib.yamaguchi-u.ac.jp/un/metadata/473
タイトルエレクトロマイグレーション故障の加速試験に基づく市場故障率予測の方法
タイトル別表記A method of predicting the field failure rate caused by electromigration with stressed test data
作成者岡村, 好庸
宮本, 秀範
作成者ヨミオカムラ, ヨシノブ
ミヤモト, ヒデノリ
作成者別表記Okamura, Yoshinobu
Miyamoto, Hidenori
資料タイプtext
ファイル形式application/pdf
出版者宇部工業高等専門学校
出版者ヨミウベ コウギョウ コウトウ センモン ガッコウ
Nii資料タイプ紀要論文
本文言語jpn
ISSN0386-4359
掲載誌名宇部工業高等専門学校研究報告
42
開始ページ11
終了ページ14
発行日1996-03
著者版/出版社版出版社版
リポジトリIDUN20042000003
備考本文データは国立情報学研究所において電子化したものである
ファイルUN20042000003.pdf ( 238.6KB ) 公開日 2010-02-15
地域区分宇部工業高等専門学校