| URI | http://ypir.lib.yamaguchi-u.ac.jp/un/metadata/473 |
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| タイトル | エレクトロマイグレーション故障の加速試験に基づく市場故障率予測の方法 |
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| タイトル別表記 | A method of predicting the field failure rate caused by electromigration with stressed test data
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| 作成者 | 岡村, 好庸
宮本, 秀範
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| 作成者ヨミ | オカムラ, ヨシノブ
ミヤモト, ヒデノリ
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| 作成者別表記 | Okamura, Yoshinobu
Miyamoto, Hidenori
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| 資料タイプ | text |
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| ファイル形式 | application/pdf |
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| 出版者 | 宇部工業高等専門学校
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| 出版者ヨミ | ウベ コウギョウ コウトウ センモン ガッコウ
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| Nii資料タイプ | 紀要論文 |
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| 本文言語 | jpn
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| ISSN | 0386-4359 |
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| 掲載誌名 | 宇部工業高等専門学校研究報告 |
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| 巻 | 42 |
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| 開始ページ | 11 |
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| 終了ページ | 14 |
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| 発行日 | 1996-03 |
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| 著者版/出版社版 | 出版社版 |
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| リポジトリID | UN20042000003 |
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| 備考 | 本文データは国立情報学研究所において電子化したものである |
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| ファイル | UN20042000003.pdf ( 238.6KB ) 公開日 2010-02-15
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| 地域区分 | 宇部工業高等専門学校
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