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URIhttp://ypir.lib.yamaguchi-u.ac.jp/un/metadata/155
タイトルX線による薄膜の膜厚測定
作成者三木, 久夫
山根, 弥生
作成者別表記Miki, H.
Yamane, Y.
資料タイプtext
出版者宇部工業高等専門学校
出版者ヨミウベ コウギョウ コウトウ センモン ガッコウ
Nii資料タイプ紀要論文
本文言語jpn
掲載誌名宇部工業高等専門学校研究報告
23
開始ページ17
終了ページ20
発行日1977-03
著者版/出版社版その他
リポジトリIDUN20023000004
ファイルフルテキストリンクなし
地域区分宇部工業高等専門学校