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URIhttp://ypir.lib.yamaguchi-u.ac.jp/on/metadata/542
タイトル電流―電圧特性解析装置を使用した電子デバイスの解析
タイトルヨミデンリュウ ― デンアツ トクセイ カイセキ ソウチ オ シヨウ シタ デンシ デバイス ノ カイセキ
タイトル別表記Analysis of semiconductor devices by means of the I-V measurement system
作成者一番ヶ瀬, 剛
作成者ヨミイチバカセ, ツヨシ
作成者別表記Ichibakase, Tsuyoshi
著者キーワードI-V characteristics
semiconductor device
diode
資料タイプtext
ファイル形式application/pdf
内容記述(抄録等)In this report, I(current) - V(voltage) characteristics measurement system was constructed for analyzing semiconductor devices, and this system was applied to Semiconductor diodes. Semiconductor diode has many unique characteristics on configuration form, and mechanism of characteristics on configuration form was less well understood. We found three different I-V characteristics in measurement of Semiconductor diodes, and we considered a mechanism model to three different I-V characteristics.
出版者大島商船高等専門学校
出版者ヨミオオシマ ショウセン コウトウ センモン ガッコウ
Nii資料タイプ紀要論文
本文言語jpn
ISSN0387-9232
NCIDAN00031668
掲載誌名大島商船高等専門学校紀要
47
開始ページ41
終了ページ49
発行日2014-12
著者版/出版社版出版社版
リポジトリIDOS10047000006
ファイルOS10047000006.pdf ( 1.2MB ) 公開日 2015-05-22
地域区分大島商船高等専門学校