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URIhttp://ypir.lib.yamaguchi-u.ac.jp/on/metadata/104
タイトル高精度電子デバイス電気特性解析装置
タイトルヨミコウセイド デンシ デバイス デンキ トクセイ カイセキ ソウチ
タイトル別表記Electrical property analysis system for electronic elemental devices
作成者一番ヶ瀬, 剛
賀屋, 雅樹
作成者ヨミイチバカセ, ツヨシ
カヤ, マサキ
作成者別表記Ichibakase, Tsuyoshi
Kaya, Masaki
著者キーワードV-I characteristics
transport properties
semiconductor device
optical device
資料タイプtext
ファイル形式application/pdf
内容記述(抄録等)Basic characteristics of the electronic devices are able to figure out from V-I characteristics. We built up the analysis system that was able to measure V-I characteristics of the elemental devices, in order to find the basic characteristic, the semiconductor junction characteristics, and the inner structures. Before designing of the system, we deliberated about high accuracy circuit, and tried to build up it. After this, we tried to apply this system to measuring the diodes and transistors, and tested the capability of this system. Conformation of the diodes and transistors differ a little from one to another, because of applications. Characteristics of conformation difference are able to be determined from V-I characteristics. From the V-I characteristics of the diodes and transistors, it was got a gratifying result of the semiconductor junction characteristics.
出版者大島商船高等専門学校
出版者ヨミオオシマ ショウセン コウトウ センモン ガッコウ
Nii資料タイプ紀要論文
本文言語jpn
ISSN0387-9232
NCIDAN00031668
掲載誌名大島商船高等専門学校紀要
41
開始ページ47
終了ページ54
発行日2008-12
著者版/出版社版出版社版
リポジトリIDOS10041000007
ファイルOS10041000007.pdf ( 1.2MB ) 公開日 2014-04-09
地域区分大島商船高等専門学校